Контроль качества многослойных образцов

Новый подход к созданию эффективного, быстрого и точного рабочего процесса в области контроля качества многослойных покрытий в металлических и пластиковых образцах. 

 

Ежедневная рутинная работа в автомобильной промышленности или микроэлектроннике, требует довольно трудоемкого рабочего процесса с большим количеством различных последовательных шагов и механизмов. Новый подход, сочетающий в себе комплекс из Leica EM  TXP (установка прецизионной механической подготовки поверхности образца до зеркального покрытия) и светового микроскопа Leica DM2700 М  позволяет облегчить необходимую процедуру, оптимизировать рабочий процесс и получить надежные и точные результаты.