Приставка зеркального отражения с углом падения луча 10°. Применяется для измерения отражающей способности твердых образцов и для анализа покрытий

Приставки зеркального отражения ПЗО30 и ПЗО45 предназначены для рутинных измерений образцов, имеющих покрытие в микронном диапазоне: для идентификации покрытий и определения их толщины.
Зеркальное отражение, полученное для сравнительно тонких пленок на отражающей подложке и измеренное для угла падения, близкого к нормальному, обычно является высокоточным и дает спектры, очень похожие на спектры пропускания

Приставка со «скользящим» углом падения луча 80° применяется для измерения очень тонких покрытий, имеющих толщину в нанометровом диапазоне, и для исследования мономолекулярных слоёв.

Для очень тонких покрытий спектральные измерения методом «скользящего» угла являются более чувствительными, чем измерения при углах падения, близких к нормальному. Это связано с увеличением длины пути луча через покрытие при увеличении угла падения.