Атомно-абсорбционный спектрофотометр ZEEnitAA 650 P (Графит)

Высокототехнологичный электротермический атомно-абсорбционный спектрометр с дейтериевой и Зеемановской коррекцией.

Важные особенности:

• 8-ламповая турель с функцией предпрогрева.
• Одно- и двухлучевая оптическая схема в одной системе.
• Высокочастотная дейтериевая коррекция и усовершенствованная Зеемановская коррекция с возможностью изменять напряженность магнитного поля.
• Интегрированная RFID-технология для работы с кодированными лампами.
• Дополнительный источник питания ламп повышенной интенсивности SUPERLAMP для улучшения чувствительности.
• Интегрированная видеокамера для наблюдения и контроля за процессами внутри печи в ходе дозирования и атомизации.
• Графитовая печь с поперечным нагревом для эффективной атомизации, устранения эффектов памяти и высокого качества проведения анализа Высокая производительность.
• Полностью автоматизированный анализ как жидких, так и твердых проб без предварительного растворения.
• Высокопроизводительный автодозатор MPE для автоматического дозирования проб в печь с функцией автоматического разбавления и концентрирования.

Прямой анализ твердых проб

Прямой анализ твердых проб методом ААС - уникальная особенность атомно-абсорбционных спектрометров Аналитик Йена с электротермическим режимом атомизации.

Проведение такого анализа стало возможным благодаря особой конструкции атомизатора, использованию принципа поперечного нагрева печи и эффективным способам коррекции фона. Весь механизм ввода также сконструирован специально для работы с различными типами твердых проб, от порошков до мелких кусочков. Геометрия держателя обеспечивает корректный ввод лодочки в атомизатор, гарантирующий идеальные условия атомизации, а также автоматическое извлечение лодочки из печи после завершения измерения. Лодочка вместительная, позволяет отобрать представительную пробу достаточной массы.

При прямом анализе твердых проб одна из трудностей - это мешающее влияние фонового поглощения матрицы. Для ее решения в приборах серии ZEEnit используется усовершенствованный способ Зеемановской коррекции фона, который позволяет работать при большей величине напряженности магнитного поля до 1 Тесла для лучшего расщепления σ- и π-компонент и определения корректной величины магнитного поля и работа в трехполевом режиме позволяющая варьировать чувствительность без разбавления.

Брошюра