Leica EM RES102

Cистема ионного травления/полировки с изменяемым направлением ионных пучков. Приготовление образцов для TEM, SEM и LM исследований

Leica EM RES102 позволяет изменять ориентацию ионных пучков с углом от 0 до 90^о и их энергию. Образец отображается в течении всего времени процесса посредством встроенной CCD камеры.

Подготовка образцов

Систему можно использовать при подготовке образцов для TEM и SEM исследований, нет необходимости покупать два различных прибора.

LN2 система охлаждения

Опциональная LN2 система охлаждения позволяет осуществлять подготовку образцов без артефактов.

LAN соединение

LAN соединение позволяет осуществлять внешний мониторинг и управление всеми операциями.

Брошюра