ООО "МСиС"
Микроскопы
|
Спектрофотометры | Сервис
Главная
Каталог
Услуги
Контакты
Микроскопия
Световые микроскопы
Стереомикроскопы, Макроскопы
Цифровые микроскопы
Микроскопные камеры
Криминалистика, судебная медицина
Пробоподготовка для электронной микроскопии
Для промышленности и материаловедения
Leica EM ACE900
Leica EM VCT500
Leica EM ICE
Leica EM TIC 3X
Leica EM CTD
Leica EM ACE600
Leica EM ACE200
Leica EM UC7
Leica EM KMR3
Leica EM FC7
Leica EM RES102
Leica EM TXP
Для подготовки биологических образцов
Спектроскопия
Хроматография
Системы очистки воды
Электронные весы
ИК-фурье спектрометры
Главная
|
Микроскопия
|
Пробоподготовка для электронной микроскопии
|
Для промышленности и материаловедения
Для промышленности и материаловедения
Leica EM UC7
Leica EM ACE900
Leica EM VCT500
Leica EM ICE
Leica EM TIC 3X
система трехлучевого ионного травления материалов на большую глубину
Leica EM CTD
Leica EM ACE600
для напыления высококачественных пленок с использованием драгоценных/не драгоценных металлов
Leica EM ACE200
компактный настольный прибор для напыления качественных проводящих пленок
Leica EM UC7
ультрамикротом для получения срезов при комнатной температуре или при глубокой заморозке
Leica EM KMR3
прибор для изготовления стеклянных ножей
Leica EM FC7
криокамера для ультрамикротомов Leica EM UC7 и EM UC6
Leica EM RES102
система ионного травления/полировки с изменяемым направлением ионных пучков. Приготовление образцов для TEM, SEM и LM исследований
Leica EM TXP
для прецизионной подготовки поверхности образцов зеркального качества
<< Назад в раздел