Leica EM TIC 3XСистема трехлучевого ионного травления материалов на большую глубину Система использует принцип одновременного поперечного травления с трех направлений для подготовки поверхности для SEM и AFM исследований, а также проведения EDS, WDS, Auger и EBSD анализа. Держатель образцов позволяет обрабатывать образцы с размерами до 50х50х10мм. Для работы на системе требуется минимальная предварительная механическая подготовка образца. К функциональным особенностям прибора можно отнести 3 Ar ионных пушки, столик, перемещающийся в трех направлениях и встроенный стереомикроскоп. Встроенный стереомикроскопВстроенный стереомикроскоп позволяет полностью контролировать процесс травления. Три ионных пушкиТри ионных пушки, позволяющие проводить одновременное травление с трех направлений, обеспечивают высокое качество поверхности и хорошую повторяемость результатов. Сенсорная панель управленияСенсорная панель управления снимает необходимость специального обучения пользователя работе на приборе, все интуитивно и просто. Охлаждающий столДля обработки чувствительных материалов может быть установлен стол, позволяющий охладить держатель образца и маску до -150° C. |
Чтобы оформить заказ или задать интересующие Вас вопросы, воспользуйтесь формой подачи заявки на сайте, обратитесь к онлайн-консультанту или звоните нам по телефонам:
|
<< Назад в раздел |