ООО "МСиС"

Микроскопы | Спектрофотометры | Сервис

    Leica EM TIC 3X Leica EM TIC 3X

    Leica EM TIC 3X

    Система трехлучевого ионного травления материалов на большую глубину

    Система использует принцип одновременного поперечного травления с трех направлений для подготовки поверхности для SEM и AFM исследований, а также проведения EDS, WDS, Auger и EBSD анализа.

    Держатель образцов позволяет обрабатывать образцы с размерами до 50х50х10мм. Для работы на системе требуется минимальная предварительная механическая подготовка образца. К функциональным особенностям прибора можно отнести 3 Ar ионных пушки, столик, перемещающийся в трех направлениях и встроенный стереомикроскоп.

    Встроенный стереомикроскоп

    Встроенный стереомикроскоп позволяет полностью контролировать процесс травления.

    Три ионных пушки

    Три ионных пушки, позволяющие проводить одновременное травление с трех направлений, обеспечивают высокое качество поверхности и хорошую повторяемость результатов.

    Сенсорная панель управления

    Сенсорная панель управления снимает необходимость специального обучения пользователя работе на приборе, все интуитивно и просто.

    Охлаждающий стол

    Для обработки чувствительных материалов может быть установлен стол, позволяющий охладить держатель образца и маску до -150° C.

    Скачать

     

    Брошюра


    Чтобы оформить заказ или задать интересующие Вас вопросы, воспользуйтесь формой подачи заявки на сайте, обратитесь к онлайн-консультанту или звоните нам по телефонам:
    • +7 (343) 258-55-88;
    • +7 (343) 258-19-43.
    << Назад в раздел