Leica EM TXP

Универсальная система для механической подготовки поверхности прецизионной подготовки поверхности образцов зеркального качества для TEM, SEM и LM исследований

Интегрированный стереомикроскоп с масштабной сеткой и регулировка угла наклона держателя образцов - 0° - 60° (по отношению к оси вращения фрезы) обеспечивает полный контроль процесса подготовки образца

Сенсорная панель управления

Управление всеми параметрами обработки осуществляется с помощью сенсорной панели.

Большое разнообразие инструментов

Система позволяет проводить фрезеровку, резку, шлифовку, полировку без удаления образца из прибора.

Контроль качества поверхности

После проведения операций по подготовке образца, с помощью встроенного микроскопа можно провести контроль качества полученной поверхности, нет необходимости переносить образец на другой прибор.

Брошюра